[发明专利]一种源漏双掺杂可重构场效应晶体管有效
申请号: | 202110562892.4 | 申请日: | 2021-05-24 |
公开(公告)号: | CN113299758B | 公开(公告)日: | 2022-08-26 |
发明(设计)人: | 孙亚宾;张芮;石艳玲;刘赟;李小进 | 申请(专利权)人: | 华东师范大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78 |
代理公司: | 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 | 代理人: | 徐筱梅;张翔 |
地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种源漏双掺杂可重构场效应晶体管,包括鳍型沟道,设于鳍型沟道两端具有三层结构的源端和漏端,设于鳍型沟道左右两侧对称分布的边墙,与边墙接触、三面包裹鳍型沟道且对称分布于鳍型沟道左右两侧的栅极氧化物,三面包裹栅极氧化物的控制栅极和极性栅极。特征是源端和漏端均具备双掺杂,两端顶部为同种掺杂半导体,底部为同种异于顶部的掺杂半导体,沟道为本征硅或轻掺杂的硅。本发明与现有的肖特基结隧穿型可重构场效应晶体管(SBRFET)相比,源端不受费米能级钉扎影响,电流对称性更易调控,源漏双掺杂可同时提供大量电子和空穴,驱动电流密度提高的同时泄漏电流与SBRFET基本无异,故具有更为理想的电流开关比,逻辑响应更快。 | ||
搜索关键词: | 一种 源漏双 掺杂 可重构 场效应 晶体管 | ||
【主权项】:
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