[发明专利]一种源漏双掺杂可重构场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 202110562892.4 申请日: 2021-05-24
公开(公告)号: CN113299758B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 孙亚宾;张芮;石艳玲;刘赟;李小进 申请(专利权)人: 华东师范大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78
代理公司: 上海蓝迪专利商标事务所(普通合伙) 31215 代理人: 徐筱梅;张翔
地址: 200241 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种源漏双掺杂可重构场效应晶体管,包括鳍型沟道,设于鳍型沟道两端具有三层结构的源端和漏端,设于鳍型沟道左右两侧对称分布的边墙,与边墙接触、三面包裹鳍型沟道且对称分布于鳍型沟道左右两侧的栅极氧化物,三面包裹栅极氧化物的控制栅极和极性栅极。特征是源端和漏端均具备双掺杂,两端顶部为同种掺杂半导体,底部为同种异于顶部的掺杂半导体,沟道为本征硅或轻掺杂的硅。本发明与现有的肖特基结隧穿型可重构场效应晶体管(SBRFET)相比,源端不受费米能级钉扎影响,电流对称性更易调控,源漏双掺杂可同时提供大量电子和空穴,驱动电流密度提高的同时泄漏电流与SBRFET基本无异,故具有更为理想的电流开关比,逻辑响应更快。
搜索关键词: 一种 源漏双 掺杂 可重构 场效应 晶体管
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华东师范大学,未经华东师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110562892.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top