[发明专利]通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法有效
| 申请号： | 202110564181.0 | 申请日： | 2021-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN113406401B | 公开（公告）日： | 2022-04-05 |
| 发明（设计）人： | 俞俊生;姚远;于海洋;陈雨晴;陈天洋;陈晓东 | 申请（专利权）人： | 北京邮电大学 |
| 主分类号： | G01R29/10 | 分类号： | G01R29/10;G01R29/08;G01R25/00 |
| 代理公司： | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人： | 项京;赵元 |
| 地址： | 100876 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法。具体的，首先用探头采集介质透镜离焦平面的实际幅值，再将计算机随机生成的初始幅值与初始相位作为初始场的场强，再将上述初始场经介质透镜传输至离焦平面，计算出频域相位以及频域幅值，将计算得到的频域幅值和频域相位作为频域场的场强，并基于由预设离焦平面的频域场得到的空域场的场强与对应离焦平面实际场的场强，计算异构输入场的场强，再采用GS‑HIO算法对上述异构输入场进行预设次数迭代计算，得到相位恢复结果。本发明实施例中，采用GS‑HIO算法恢复相位，可加快算法的收敛速度，且通过多次迭代计算，提高了通过幅值恢复相位的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 透镜 平面 恢复 天线 测量 系统 相位 方法 | ||
【主权项】：
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