[发明专利]基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 202110570580.8 申请日: 2021-05-25
公开(公告)号: CN113295097B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 鞠军委;张爱国;金辉;陈振文;刘志明;徐桂城;张志辉 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人: 李琳
地址: 266555 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及基于光波元件分析仪群时延的光纤长度测量方法及装置,包括以下步骤:步骤1:校准光波元件分析仪;步骤2:设置光波元件分析仪的光波参数;步骤3:在光波元件分析仪中接入被测光纤,获得被测光纤的群时延τGD;步骤4:利用获得的群时延τGD,和光速c及光纤折射率n计算被测光纤的长度L;其中,步骤2设置的光波参数满足关系:Δf为频率跨度,p为测量点数,α为频点密度系数,L为光纤长度,c为光速,n为光纤折射率。测量装置简单,仅通过一台光波元件分析仪作为测试仪器即可完成测量。
搜索关键词: 基于 光波 元件 分析 群时延 光纤 长度 测量方法 装置
【主权项】:
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