[发明专利]一种测试芯片版图的生成方法在审
| 申请号： | 202110573566.3 | 申请日： | 2021-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN113919281A | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 杨景丞 | 申请（专利权）人： | 杨家奇 |
| 主分类号： | G06F30/398 | 分类号： | G06F30/398;G06F30/392 |
| 代理公司： | 上海思捷知识产权代理有限公司 31295 | 代理人： | 王宏婧 |
| 地址： | 中国台湾新北市*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试芯片版图的生成方法，包括：创建测试芯片的指令集，所述指令集包括关于测试芯片的版图信息的多个指令；利用含内嵌版图算法的程序读取所述指令集，并根据版图设计规则及参数，执行与所述指令集中各指令相对应的版图算法以生成测试芯片版图的版图算法含内嵌版图算法。本发明提供的测试芯片版图的生成方法，无需版图工程师参与，即可直接生成，因此提高了版图生成速度，而且也因少了人工干预，版图的质量得以提高，另外，发明实施例提供的测试芯片版图的生成方法也使得在生成测试芯片的版图时，无需再依赖于版图编辑EDA工具，因此更加便捷，且降低了生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 版图 生成 方法 | ||
【主权项】：
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