[发明专利]选通器开关的仿真方法及系统有效
| 申请号： | 202110585878.6 | 申请日： | 2021-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN113283085B | 公开（公告）日： | 2022-10-21 |
| 发明（设计）人： | 王晨;张卫;黄阳;唐灵芝 | 申请（专利权）人： | 复旦大学;上海集成电路制造创新中心有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/20 | 分类号： | G06F30/20;G16C10/00;G16C20/10;G06F119/08;G06F119/14 |
| 代理公司： | 上海恒锐佳知识产权代理事务所(普通合伙) 31286 | 代理人： | 黄海霞 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种选通器开关的仿真方法，包括通过划分格点的方式建立选通器开关的二维模型，根据所述二维模型的参数计算银原子氧化概率、银离子还原概率、银离子迁移概率以及银原子扩散概率，根据所述银原子氧化概率、所述银离子还原概率、所述银离子迁移概率以及所述银原子扩散概率更新银原子在所述二维模型中的占位，以实现银原子的堆积和扩散，能够直观地观察选通器在选通开关过程中银导电细丝在阻变层中的生长演化过程，从各个方面揭示了选通器开关的微观阻变过程，保证了选通器开关仿真的准确性。本发明还提供了一种选通器开关的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 选通器 开关 仿真 方法 系统 | ||
【主权项】：
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