[发明专利]基于光矢量分析的光时延测量方法及装置在审
| 申请号： | 202110596035.6 | 申请日： | 2021-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN113340571A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 李树鹏;潘时龙;陈旭峰;王祥传;汤晓虎;王立晗;刘熙;李平 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学;苏州六幺四信息科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210000 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于光矢量分析的光时延测量方法，用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制；然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号；提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换，得到待测光链路的时域脉冲响应，并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。本发明还公开一种基于光矢量分析的光时延测量装置。相比现有技术，本发明同时具有超远的测量距离及较高的时域分辨力和时延测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 矢量 分析 光时延 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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