[发明专利]一种芯片的质量检测装置有效
| 申请号： | 202110606807.X | 申请日： | 2021-03-08 |
| 公开（公告）号： | CN113325298B | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 胡信伟;侯林;李翔 | 申请（专利权）人： | 南京派格测控科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京之于行知识产权代理有限公司 11767 | 代理人： | 侯越玲 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市中国（江苏）自由*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种芯片的质量检测装置，包括至少两个测试站和控制单元，至少两个测试站以串测的方式对芯片进行测试，所述控制单元基于抽测指数来指示测试站抽取合格芯片并进行至少一次质量测试；所述抽测指数的确定方式为，m＝n‑a+b，其中，m表示抽测指数，n表示一轮测试芯片的数量；a表示测试站的数量；b表示测试站的序号。本发明通过对抽测指数进行确定并且基于抽测指数进行质量测试的数据调节，从而提高了各个测试站的测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 质量 检测 装置 | ||
【主权项】：
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