[发明专利]测试保护电路及其控制方法、测试电路及芯片测试电路有效
| 申请号： | 202110609539.7 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113359008B | 公开（公告）日： | 2022-11-25 |
| 发明（设计）人： | 陆玉斌 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 史治法 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法，测试保护电路包括：第一电连接端，与测试机的驱动线连接；驱动线通过探针与被测器件连接，以为被测器件提供电源电压，测试机用于对被测器件进行开尔文电性测试；第二电连接端，与测试机的感测线连接；感测线通过感测引脚与被测器件连接，以感测被测器件的电源电压；及保护模块，与第一电连接端及第二电连接端连接，用于在感测引脚异常时将被测器件的电源电压反馈给测试机。上述测试保护电路、测试电路、芯片测试电路及测试保护电路的控制方法能避免测试机在感测引脚异常通过驱动线向被测器件输出过高电压，从而避免烧针。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 保护 电路 及其 控制 方法 芯片 | ||
【主权项】：
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