[发明专利]基于FPGA芯片实现的scan chain电路的测试系统及方法有效
| 申请号： | 202110611408.2 | 申请日： | 2021-06-01 |
| 公开（公告）号： | CN113377587B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 张益畅 | 申请（专利权）人： | 珠海昇生微电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 侯丽燕 |
| 地址： | 519000 广东省珠海市高新区唐家*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于FPGA芯片实现的scan chain电路的测试系统及方法，所述测试系统集成于FPGA芯片上，包括：数据解析单元、存储单元、时序发生单元、控制单元和结果输出单元；方法包括S1，将原始scan chain电路的激励信号和原始scan chain电路的预期输出信号进行数据解析和编码，编码后经过scan chain电路进行激励和存储，并对数据解析单元解析后scan chain电路的预期输出信号进行编码并存储；根据测试scan chain电路的时序波形对经过编码后的scan chain电路的激励信号进行采样，并将采样数据和存储的预期输出信号进行数据比对；输出结果。本发明实现了在小型FPGA平台上对scan chain电路的测试，实现方案价格便宜，测试速度快。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 fpga 芯片 实现 scan chain 电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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