[发明专利]一种半导体器件的制备方法在审

专利信息
申请号: 202110612944.4 申请日: 2021-06-02
公开(公告)号: CN113345911A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 罗佳明;王建东;李拓;杨永刚;李华东;张莉 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/1157 分类号: H01L27/1157;H01L27/11582;H01L27/11524;H01L27/11556
代理公司: 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 代理人: 李健
地址: 430205 湖北省武汉*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种半导体器件的制备方法,先在衬底上交替堆叠层间绝缘层和层间介质层形成以叠层结构,然后形成垂直贯穿叠层结构的沟道结构,再去除层间介质层形成凹槽,最后去除部分层间绝缘层,并在凹槽内填充栅极导体层。其中,在形成沟道结构之前,增加了层间绝缘层的厚度且减小了层间介质层的厚度,因此可以降低形成沟道结构的刻蚀工艺难度,且可以减小层间介质层导致的晶圆应力。另外,在最后去除了增加的层间绝缘层后,还能保证最终叠层结构中层间绝缘层和层间介质层的厚度为各自所需的厚度。
搜索关键词: 一种 半导体器件 制备 方法
【主权项】:
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