[发明专利]一种大曲率微小件表面多层金属薄膜的无损检测方法有效
申请号: | 202110618682.2 | 申请日: | 2021-06-03 |
公开(公告)号: | CN113640327B | 公开(公告)日: | 2023-07-25 |
发明(设计)人: | 罗晋如;龚星宇;邓林;全琪;蔡吉庆;李云;王曦 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院材料研究所 |
主分类号: | G01N23/207 | 分类号: | G01N23/207;G01N23/20;G01B15/06 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 曹洋苛 |
地址: | 621700 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开一种大曲率微小件表面多层金属薄膜的无损检测方法,包括以下步骤:S1:采用同步辐射X射线微束技术对样品进行检测;S2:采用切入射方法获得表面金属膜层的衍射信号,通过转动样品,使样品与入射X射线相切,入射X射线与样品表面夹角趋近于0°,进而获得表面金属膜层的衍射信号;S3:采用掠入射方法获得中间金属膜层的衍射信号,通过转动样品,使样品中间层与入射X射线形成夹角,夹角小于5°,进而获得中间层金属薄膜镀层的衍射信号;S4:采用透射方法对衍射信号进行校准,此时转动样品,使X射线水平穿透2层复合镀层,从而获得2套衍射信号以辅助校准;采用具有高亮度的同步辐射光源和同步辐射微束技术获得微米级的空间分辨率。 | ||
搜索关键词: | 一种 曲率 微小 表面 多层 金属 薄膜 无损 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院材料研究所,未经中国工程物理研究院材料研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110618682.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种装配式墙体结构
- 下一篇:车载燃料电池阴极流量与压力控制方法