[发明专利]一种具有垂直场板保护的SiC基槽栅MOSFET结构在审

专利信息
申请号: 202110627327.1 申请日: 2021-06-05
公开(公告)号: CN113488540A 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 蒋佳烨;胡冬青;李婷;王正江;周新田;贾云鹏;吴郁 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/40
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 刘萍
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 具有垂直场板保护的SiC基槽栅MOSFET结构属于功率半导体开关器件。这种结构在普通槽栅MOSFET基础上,增加了深槽群。深槽与栅槽同轴且形状相似,深槽外边‑栅槽内边间距均匀相等,且控制在1‑3微米之间。深槽比栅槽深2‑10微米,深槽内填充的多晶与源电极相连,在器件阻断态起垂直偏置场板作用,可以有效降低栅槽角隅处的电场强度,改善栅可靠性。外延层分两层,第一层外延层的掺杂浓度和厚度与阻断电压有关,对于1200V的耐压要求掺杂浓度在1‑2×1016cm‑3范围内,厚度在8‑10微米范围内,第二层外延层的掺杂浓度控制在1‑5×1016cm‑3范围,厚度与深槽深度相同。第一层外延层和第二层外延层的总厚度为15‑17微米。
搜索关键词: 一种 具有 垂直 保护 sic 基槽栅 mosfet 结构
【主权项】:
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