[发明专利]基于细延时移相的环形进位链TDC电路及其测量方法在审

专利信息
申请号: 202110627545.5 申请日: 2021-06-04
公开(公告)号: CN113346879A 公开(公告)日: 2021-09-03
发明(设计)人: 崔珂;朱明;李斯萌 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: H03K5/135 分类号: H03K5/135
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 薛云燕
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于细延时移相的环形进位链TDC电路及其测量方法。该电路包括粗测部分、细测部分和时间戳组合部分;其中粗测部分由粗计数器模块构成;细测部分由第一Vernier延时线通道和第二Vernier延时线通道构成;其中第一Vernier延时线通道包括时间提取、细计时模块;第二Vernier延时线通道包括相位延迟模块、时间提取和细计时模块;其中细计时模块包括第一延时线、第二延时线、鉴相器、细计数器和四个脉冲整形模块;相位延迟模块包括τ个延时单元;时间戳组合部分由时间戳组合模块构成。本发明提高了TDC分辨率及线性度,降低了均方根误差,且减少了资源消耗量。
搜索关键词: 基于 延时 环形 进位 tdc 电路 及其 测量方法
【主权项】:
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