[发明专利]基于细延时移相的环形进位链TDC电路及其测量方法在审
申请号: | 202110627545.5 | 申请日: | 2021-06-04 |
公开(公告)号: | CN113346879A | 公开(公告)日: | 2021-09-03 |
发明(设计)人: | 崔珂;朱明;李斯萌 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | H03K5/135 | 分类号: | H03K5/135 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 薛云燕 |
地址: | 210094 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: |
本发明公开了一种基于细延时移相的环形进位链TDC电路及其测量方法。该电路包括粗测部分、细测部分和时间戳组合部分;其中粗测部分由粗计数器模块构成;细测部分由第一Vernier延时线通道和第二Vernier延时线通道构成;其中第一Vernier延时线通道包括时间提取、细计时模块;第二Vernier延时线通道包括 |
||
搜索关键词: | 基于 延时 环形 进位 tdc 电路 及其 测量方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学,未经南京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110627545.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。