[发明专利]一种用于芯片失效分析的图像采集方法及系统有效
| 申请号： | 202110628400.7 | 申请日： | 2021-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN113259591B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 尚跃;李欣 | 申请（专利权）人： | 上海聚跃检测技术有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/232 | 分类号： | H04N5/232 |
| 代理公司： | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人： | 严帅 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于芯片失效分析的图像采集方法及系统。该方法包括：根据金相显微镜（OM）或扫描电镜(SEM)机台提供的通信接口和相关的编程接口，编写上位机应用程序实现：控制金相显微镜机台/扫描电镜机台载物台上的芯片按照用户设置的参数移动，并在其移动过程控制金相显微镜机台的相机对该芯片的不同部位进行持续拍摄、自动保存拍摄所得的图像。通过本发明提供的技术方案能够实现采用金相显微镜机台/扫描电镜机台对其载物台上的芯片的不同位置进行自动、持续拍摄并保存相关图像，实现对失效芯片的大范围、高效率地图像采集。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 失效 分析 图像 采集 方法 系统 | ||
【主权项】：
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