[发明专利]半导体元件及其形成方法在审

专利信息
申请号: 202110631139.6 申请日: 2021-06-07
公开(公告)号: CN113394218A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: 范达尔·马库斯·琼斯·亨利库斯;朵尔伯斯·荷尔本 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/092 分类号: H01L27/092;H01L27/02;H01L23/367;H01L21/8238
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 徐金国
地址: 中国台湾新竹市*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种半导体元件及其形成方法,半导体元件包括基材、半导体鳍片、源极/漏极结构、第一埋入式电源线、接触、第一基材通孔和第二基材通孔。基材具有井区,此井区从基材的前表面延伸到基材中。半导体鳍片位于井区上。源极/漏极结构在半导体鳍片上。第一埋入式电源线电耦合到第一半导体鳍片上的源极/漏极结构。第一埋入式电源线具有沿着第一半导体鳍片的长度方向延伸的长度和在井区内延伸的高度。第一基材通孔从基材的背表面穿过基材延伸到第一埋入式电源线。第二基材通孔从基材的背表面延伸到井区。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 形成 方法
【主权项】:
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