[发明专利]一种适用于电磁控制元件的非接触式同轴对位方法和装置有效

专利信息
申请号: 202110643479.0 申请日: 2021-06-09
公开(公告)号: CN113433890B 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 吕娜;刘建梅;杨文超;徐志强;崔璨 申请(专利权)人: 北京航天控制仪器研究所
主分类号: G05B19/19 分类号: G05B19/19
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 徐晓艳
地址: 100854 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种适用于电磁控制元件的非接触式同轴对位方法和装置,基于被测电磁控制元件定子和转子为圆柱形,依靠端面螺纹安装紧固,利用激光位移传感器进行轴心偏移量的非接触测量,利用X、Z两轴直线位移台实现两个正交方向轴心的对位调整,利用回转台提供同轴对位调整的参照基准。本发明的同轴对位方法可以实现电磁控制元件产品在制造过程中进行性能测试前的同轴对位调整,与现有的工装限位的方法相比能够提高测试前定子和转子的同轴度,实现更加真实、准确的反映电磁控制元件产品的性能,同时避免划伤产品表面。本发明的同轴对位方法也可以用于实现其他圆形产品间的同轴对位调整。
搜索关键词: 一种 适用于 电磁 控制元件 接触 同轴 对位 方法 装置
【主权项】:
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