[发明专利]一种半导体晶片贴装到基板后的封装检测设备在审
申请号: | 202110648507.8 | 申请日: | 2021-06-10 |
公开(公告)号: | CN113376092A | 公开(公告)日: | 2021-09-10 |
发明(设计)人: | 董福国;张强 | 申请(专利权)人: | 深圳市卓晶微智能机器人科技有限公司 |
主分类号: | G01N19/08 | 分类号: | G01N19/08 |
代理公司: | 北京恒泰铭睿知识产权代理有限公司 11642 | 代理人: | 张克钊 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝安区福永*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及半导体加工技术领域,且公开了一种半导体晶片贴装到基板后的封装检测设备,包括加工机台,还包括送料输送带、安装壳体、检测接触机构、检测反应机构,所述加工机台顶部固定连接有送料输送带,所述加工机台顶部固定连接有安装壳体,所述安装壳体底部固定连接有检测接触机构,用于与待检测的半导体芯片接触,所述安装壳体内部固定连接有检测反应机构,由于判断待检测的半导体芯片是否出现缺陷。该半导体晶片贴装到基板后的封装检测设备,损伤区域对应接触的检测顶针无法被顶起至预定位置,则对应的第一定触头和第一动触头无法接触,平衡侧板向较重的一侧倾斜,带动对应侧的第二定触头和第二动触头接触后,使得报警器进行报警提示。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 晶片 贴装到基板后 封装 检测 设备 | ||
【主权项】:
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