[发明专利]一种用于材料微区局部应变场测量的SEM-DIC纳米散斑制备方法在审
| 申请号： | 202110651521.3 | 申请日： | 2021-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN113588699A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 董亚丽;顾轶卓 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N23/2202 | 分类号： | G01N23/2202;G01N23/2251;G01B15/00;G01B15/06;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司： | 北京冠和权律师事务所 11399 | 代理人： | 刘艳霞 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于材料微区局部应变场测量的SEM‑DIC纳米散斑制备方法。该方法用到的散斑材料和设备包括纳米粉体(1)、分散剂(3)、超声清洗机(2)、滴管(8)和基底材料(9)。将不同配比的纳米粉体与分散剂混合，利用超声分散均匀，取一部分分散好的混合液作为散斑的混合液，然后制备具有高分散性的纳米散斑，根据纳米粉体的颗粒尺寸与混合液的浓度不同制备的纳米散斑可用于SEM‑DIC下100μm×100μm到10μm×10μm视场的应变测量。该发明方法原理简单、可操作性强，利用SEM下原位加载台与高温环境箱配合可实现从室温到1200℃试验件在热力耦合下位移场、变形场高精度测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 材料 局部 应变 测量 sem dic 纳米 制备 方法 | ||
【主权项】：
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