[发明专利]一种自适应校正的EVM测试系统及方法有效
| 申请号： | 202110660606.8 | 申请日： | 2021-06-15 |
| 公开（公告）号： | CN113518053B | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 马万治;徐梦然;徐强;阎嘉怡;潘文生;刘颖 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | H04L27/38 | 分类号： | H04L27/38;H04L27/26;H04B17/21 |
| 代理公司： | 成都巾帼知识产权代理有限公司 51260 | 代理人： | 邢伟 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种自适应校正的EVM测试系统及方法,所述系统包括：nPSK信号源(1)，用于产生多种模式的PSK信号，作为EVM测试方法的测试信号，并传输给信号类型检测单元(2)；信号类型检测单元(2)，用于对来自nPSK信号源(1)的测试信号类型进行判断，并将测试信号和判断结果传输给信号估计子系统；信号估计子系统，用于进行测试信号和参考信号的估计，并将估计结果传输给EVM测试单元(10)；EVM测试单元(10)，用于接收来自信号估计子系统的估计结果，计算测试信号的EVM值，并将结果通过EVM测试结果输出单元(11)对外输出。本发明实现了对测试信号的频偏补偿，并在利用滤波器进行频偏校正的同时完成参考信号的构造，相较于传统测试方法更加简单。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 自适应 校正 evm 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学，未经电子科技大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110660606.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种手性光敏掺杂剂及其制备方法与应用
- 下一篇：一种接地装置
