[发明专利]高通量光刻胶配胶曝光一体化设备及光刻工艺在审
申请号: | 202110673445.6 | 申请日: | 2021-06-17 |
公开(公告)号: | CN115487998A | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 李卫民;施胜华;黄嘉晔;俞文杰 | 申请(专利权)人: | 上海集成电路材料研究院有限公司 |
主分类号: | B05C5/02 | 分类号: | B05C5/02;B05C11/10;B05C13/02;B05C9/14;B05D3/04;G03F7/16;G03F7/20 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 卢炳琼 |
地址: | 201800 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种高通量光刻胶配胶曝光一体化设备及光刻工艺。设备包括配胶系统、涂胶腔室、传送腔室及曝光腔室;配胶系统包括2套以上配胶装置,各配胶装置均包括配胶釜、压滤机和精滤釜,光刻胶原料在配胶釜中完成混合调配后被输送至压滤机过滤,之后转入精滤釜进行超净过滤以得到光刻胶;涂胶腔室包括涂胶腔体、载台及喷嘴,载台及喷嘴均位于涂胶腔体内,喷嘴一端经双极泵与各配胶装置的精滤釜相连接,另一端延伸到载台上方;传送腔室连接于涂胶腔室和曝光腔室之间,传送腔室包括传送腔体及位于传送腔体内的传送装置。本发明可实现光刻胶的自动加料和自动配置,且配方高通量,曝光高通量,可降低光刻成本和提高光刻良率。 | ||
搜索关键词: | 通量 光刻 胶配胶 曝光 一体化 设备 工艺 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海集成电路材料研究院有限公司,未经上海集成电路材料研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110673445.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。