[发明专利]用于氮化物外延材料的衬底预处理方法及外延材料在审
申请号: | 202110678123.0 | 申请日: | 2021-06-18 |
公开(公告)号: | CN113628955A | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | 郭艳敏;尹甲运;李佳;王波;张志荣;芦伟立;高楠;房玉龙;冯志红 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十三研究所 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L29/06 |
代理公司: | 石家庄国为知识产权事务所 13120 | 代理人: | 付晓娣 |
地址: | 050051 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明适用于氮化物材料制备方法技术领域,提供了一种用于氮化物外延材料的衬底预处理方法及外延材料。其中,用于氮化物外延材料的衬底预处理方法,在衬底上生长外延材料之前还包括以下步骤:将衬底设置在反应室内、并将衬底升温至700℃‑1600℃;向反应室内通入MO源和载气对衬底表面进行预处理,MO源为三甲基镓、三甲基铟或三乙基镓中的一种或多种;达到预设时间后,停止通入MO源。本申请提供的用于氮化物外延材料的衬底预处理方法,在生长外延材料之前,首先对衬底进行预处理,一方面可清洁衬底,另一方面可在衬底表面形成如自由基、原子、离子等微粒,这些微粒可以改善氮化物外延材料的晶体质量,进而改善器件的功率、频率特性。 | ||
搜索关键词: | 用于 氮化物 外延 材料 衬底 预处理 方法 | ||
【主权项】:
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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