[发明专利]一种保护芯片钝化前清洗制造工艺在审
申请号: | 202110680388.4 | 申请日: | 2021-06-18 |
公开(公告)号: | CN113410127A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 崔文荣 | 申请(专利权)人: | 江苏晟驰微电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 北京天盾知识产权代理有限公司 11421 | 代理人: | 丁桂红 |
地址: | 226600 江苏省南*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种保护芯片钝化前清洗制造工艺,包括以下步骤:1)沟槽腐蚀前处理:将沟槽光刻完的产品放入120°烘箱20分钟;2)去除沟槽内氧化层:沟槽内的氧化层放入40℃BOE内腐蚀10分钟,冲水;3)沟槽腐蚀:用氢氟酸硝酸冰乙酸水混合酸腐蚀沟槽,沟槽深度根据产品要求作业;4)去挂边:用超声清洗去除沟槽边缘氧化层;5)硝化酸清洗;6)硫酸双氧水清洗;7)电泳玻璃:电泳玻璃粉,烧结;8)引线孔光刻;9)蒸发金属;10)金属光刻;11)测试,本发明操作方法简单,增加硝化酸清洗,沟槽腐蚀后,PN结裸漏出来,稀硝酸将硅轻微氧化形成阻挡层,阻挡层能有效阻挡外界沾污,在作业电泳前更好的保护裸漏的PN结,提升整体产出率。 | ||
搜索关键词: | 一种 保护 芯片 钝化 清洗 制造 工艺 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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