[发明专利]一种半导体测试系统的开关切换电路及方法有效
| 申请号： | 202110689258.7 | 申请日： | 2021-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN113252950B | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 邵凌明;毛国梁 | 申请（专利权）人： | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/20 | 分类号： | G01R1/20;G01R31/28;H03K19/20;H01H9/54;H03K17/687 |
| 代理公司： | 南京新众合专利代理事务所(普通合伙) 32534 | 代理人： | 彭雄 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市浦口区江浦街道浦*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及了一种半导体测试系统的开关切换电路及方法，包括源表模块、控制模块、开关模块，所述源表模块用于设置电流档位与输出状态，所述控制模块根据电流档位与输出状态产生相应电平的使能信号En和控制信号Con；根据使能信号En和控制信号Con产生相应电平的控制信号一Rc1和控制信号二Rc2；开关模块用于根据控制信号一Rc1、控制信号二Rc2的电平高低，执行开关操作，使得源板能够无任何电压电流输出、允许1A以下的电流输出或者允许1A以上的电流输出。本发明不仅规避了单一类型开关的缺点，而且提升了系统测试精度、测试稳定性与开关电路的使用寿命，同时降低了使用成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 系统 开关 切换 电路 方法 | ||
【主权项】：
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