[发明专利]一种硅碳球中硅含量的测定方法在审
| 申请号： | 202110699294.1 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113514486A | 公开（公告）日： | 2021-10-19 |
| 发明（设计）人： | 王德洲;李文生;章祝雄;郭质江;姜小露 | 申请（专利权）人： | 武钢集团昆明钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 昆明今威专利商标代理有限公司 53115 | 代理人： | 赛晓刚 |
| 地址： | 650302 云南省*** | 国省代码： | 云南;53 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硅碳球中硅含量的测定方法，包括：1)硅碳球标准物质的配制：将硅碳球标准物质YSBC 25611‑93硅铁标样和ZBM 129A焦炭标样按比例配制硅碳球标准物质。2)压片制样。3)X射线荧光光谱仪分析条件的选择和设置，采用真空光路,直径27mm钢罩,Kα谱线，电压为60kV,电流为50mA，探测器为流气正比探测器，测定时间为40秒。4)用X射线荧光光谱仪分别测定步骤1中所述的标准物质硅含量，根据标准物质的已知含量和测定强度，建立工作曲线。5)用X射线荧光光谱仪测定待测试样的硅含量。本发明针硅碳球中的硅的含量高、并且含量范围很宽的问题，提供了一种用X射线荧光光谱仪测定待测试样中硅元素的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硅碳球中硅 含量 测定 方法 | ||
【主权项】：
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