[发明专利]存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质有效
| 申请号： | 202110699800.7 | 申请日： | 2021-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN113257330B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 周斌;刘佳;王于波;庞振江;王文赫;李延;梁昭庆 | 申请（专利权）人： | 北京智芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G06F11/14 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;王晓晓 |
| 地址： | 102200 北京市昌平*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进，一方面，对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化，从而有效降低掉电测试流程的时间消耗；另一方面，对掉电测试过程中的测试参数进行优化，进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗，从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗，提高掉电测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 装置 掉电 保护 测试 方法 以及 介质 | ||
【主权项】：
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