[发明专利]反射式纯相位液晶空间光调制器及其制备、盒厚测试方法在审
| 申请号： | 202110705066.0 | 申请日： | 2021-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN113359335A | 公开（公告）日： | 2021-09-07 |
| 发明（设计）人： | 薛利军;赵卫;夏高飞;王华;高宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1333;G02F1/1339;G02F1/1343 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 郑丽红 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明提供一种反射式纯相位液晶空间光调制器及其制备、盒厚测试方法，解决现有反射式液晶空间光调制器存在靶面尺寸较小、封装容易出现盒厚不均、盒厚均一性较差的问题。该调制器中，上盖板玻璃、第二电极层、上取向层由上至下依次设置形成上基板；下取向层、第一电极层、像素电路层、下盖板玻璃由上至下依次设置形成下基板；透明支撑柱设置在液晶分子层中，排布在像素非开口区；像素电路层采用大面阵薄膜晶体管TFT‑LCD电路基板；第一电极层包括反射层和设置在反射层两侧的保护层，用于实现TFT‑LCD电路基板的反射式光路；液晶分子层设置在上基板和下基板之间，且液晶分子层的四周设置有周边框胶，透明支撑柱、周边框胶和液晶分子实现盒厚均一。 | ||
| 搜索关键词： | 反射 相位 液晶 空间 调制器 及其 制备 测试 方法 | ||
【主权项】：
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