[发明专利]芯片SLT测试的软件实现方法及系统有效
| 申请号： | 202110708174.3 | 申请日： | 2021-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN113254296B | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 赵朋飞;陈庆;韩向阳 | 申请（专利权）人： | 上海励驰半导体有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/263 | 分类号： | G06F11/263;G06F11/273 |
| 代理公司： | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人： | 曹婷 |
| 地址： | 200000 上海市浦东新区上海自由贸易试*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片SLT测试的软件实现方法及系统，涉及芯片测试技术领域，解决了SLT测试软件的移植率不高的技术问题，其技术方案要点是将SLT测试软件作为组件运行在待测SOC芯片的操作系统之上，与系统软件解耦，方便移植。在SOC开发板的配合下，实现在芯片真实运行的软硬件环境下进行SLT测试。本发明的SLT测试软件的测试用例的实现是独立开发的，测试用例的软件实现人员不用修改SLT测试软件的实现，单独实现测试用例即可，保证软件的稳定性。并且单个测试用例内部的bug不会导致整个SLT的测试卡死，保证软件的健壮性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 slt 测试 软件 实现 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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