[发明专利]集成电路测试方法与系统有效
| 申请号： | 202110710546.6 | 申请日： | 2020-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN113608099B | 公开（公告）日： | 2023-09-08 |
| 发明（设计）人： | 宋卫权;张健 | 申请（专利权）人： | 杭州芯讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人： | 蔡纯;杨思雨 |
| 地址： | 310012 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种集成电路测试方法与系统。所述测试方法包括：采用测试配置测试多个集成电路以获得测试数据；以及根据测试数据获得多个集成电路的测试结果，其中，在测试步骤中，根据测试数据相关的变更条件实时变更测试配置，测试配置规定至少一个测试项、以及与至少一个测试项对应的测试激励和测试规范。通过对大量实时测试数据的分析，根据测试配置和测试配置的变更条件，在保有基本测试配置的基础上，实时变更部分测试项或测试激励或测试规范，无需通过变更流程升级测试配置即可实行多种测试方案，从而支持更加高效的测试行为，实现智能化测试的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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