[发明专利]读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备有效
| 申请号： | 202110724696.2 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN113470723B | 公开（公告）日： | 2023-07-14 |
| 发明（设计）人： | 孙成思;孙日欣;王营许;高嵊昊;胡伟;朱渝林 | 申请（专利权）人： | 成都佰维存储科技有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人： | 欧阳燕明 |
| 地址： | 610000 四川省成都市高新*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开一种读重试测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，根据接收的待测闪存的读重试功能的测试请求以块为单位对所述待测闪存的目标操作模式进行遍历，直至遍历完所述目标操作模式中的所有块；对于遍历到的目标块中的预设目标页进行读操作，得到目标原始数据；基于所述目标原始数据对所述预设目标页的数据进行位翻转，得到位翻转后的预设目标页；读取所述位翻转后的预设目标页的数据，得到读取结果，并根据所述读取结果得到所述读重试功能的测试结果，以此强制修改数据来进行位翻转的构造，从而触发主控的读重试功能并对其进行测试，提高了测试读重试功能的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 重试 测试 方法 装置 可读 存储 介质 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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