[发明专利]一种改善刻蚀水印的装置及刻蚀机在审
申请号: | 202110729439.8 | 申请日: | 2021-06-29 |
公开(公告)号: | CN113451442A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 周翔;雷佳;黄明;邵辉良;祝春华 | 申请(专利权)人: | 上饶捷泰新能源科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L21/306 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 豆贝贝 |
地址: | 330000 江西省*** | 国省代码: | 江西;36 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种改善刻蚀水印的装置及刻蚀机,改善刻蚀水印装置,包括设置在刻蚀机台用于承载晶片的滚轮,所述滚轮包括旋转轴以及设置在所述旋转轴表面的螺纹结构。通过将现有的台阶型滚轮设计为具有螺纹结构的滚轮,用于承载晶片时,可以减少水的吸附,改善水印的效果。进而提高产品效率/良率,降低化学品耗量,节约生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 改善 刻蚀 水印 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的