[发明专利]一种光学薄膜缺陷批量式检测设备有效
| 申请号： | 202110733144.8 | 申请日： | 2021-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN113466256B | 公开（公告）日： | 2022-04-15 |
| 发明（设计）人： | 汪洋 | 申请（专利权）人： | 深圳市楠轩光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G01N21/01 |
| 代理公司： | 杭州麦知专利代理事务所(普通合伙) 33397 | 代理人： | 夏一鸣 |
| 地址： | 518111 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明的一种光学薄膜缺陷批量式检测设备，包括检测仪，所述检测仪内设有检测区间，所述检测区间内设有收放机构，所述收放机构包括固定设置在所述检测区间一侧内壁的承重杆，所述承重杆上套有四个旋转台，每个所述旋转台上都放置有一卷光学薄膜,本发明可对光学薄膜进行缺陷检测并贴上标签，发明采用一卷卷的光学薄膜直接进行检测，并通过可拆卸的旋转台及卷绕台来对光学薄膜进行完整的收放，大大提高了检测效率，采用多组的旋转台与卷绕台，可有效提高工作效率，节约工作时间，发明内拥有两处贴签机构，既可标记光学薄膜上缺陷的大致范围，又可标记光学薄膜的大致品质，十分方便后续的处理，无需人为去分析数据，十分方便，降低处理难度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学薄膜 缺陷 批量 检测 设备 | ||
【主权项】：
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