[发明专利]用于分析被测设备的测试和测量系统在审
| 申请号： | 202110733579.2 | 申请日： | 2021-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN113868066A | 公开（公告）日： | 2021-12-31 |
| 发明（设计）人： | S·J·斯特里克林;D·S·弗雷利奇;M·L·鲍德温;J·桑;陈霖永 | 申请（专利权）人： | 特克特朗尼克公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/263 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 钟茂建;陈岚 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 用于分析被测设备的测试和测量系统。一种用于分析被测设备的测试和测量系统，包括：数据库，其被配置成存储与用一个或多个先前被测设备执行的测试相关的测试结果；接收器，用于接收关于新的被测设备的新的测试结果；数据分析仪，其被配置成基于存储的测试结果来分析新的测试结果；以及健康分数生成器，其被配置成基于来自数据分析仪的分析针对新的被测设备生成健康分数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 分析 设备 测试 测量 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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