[发明专利]半导体器件的制备方法在审
申请号: | 202110739263.4 | 申请日: | 2021-06-30 |
公开(公告)号: | CN113451343A | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 薛广杰 | 申请(专利权)人: | 武汉新芯集成电路制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 田婷 |
地址: | 430205 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供的背照式图像传感器的制备方法中,由于先对衬底进行了P型离子注入以形成P型掺杂层,之后刻蚀P型掺杂层形成开槽,并使开槽的宽度大于被开槽分割后形成的P型结构的宽度。如此一来,则降低了后续生长在开槽内的外延结构的深宽比,进而在对外延结构进行N型离子注入时,能够提升注入效果,以提升最终制备而成的背照式图像传感器的性能。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 制备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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