[发明专利]一种芯片生产过程中防破碎的芯片筛选装置及筛选方法在审

专利信息
申请号: 202110741720.3 申请日: 2021-06-30
公开(公告)号: CN113304884A 公开(公告)日: 2021-08-27
发明(设计)人: 任迎春 申请(专利权)人: 任迎春
主分类号: B03C1/30 分类号: B03C1/30;B08B5/02;B01D46/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 510000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种芯片生产过程中防破碎的芯片筛选装置,涉及芯片生产领域,包括外壳、底壳、保护翻动组件、碎屑收集腔、吸料磁板和安装组件,所述外壳的底部通过合页安装有底壳,外壳的后侧外壁上固定安装有驱动电机,外壳的内部开设有筛选内腔与碎屑收集腔。本发明通过在内部安装有保护翻动组件,在平常对于芯片进行筛选时,可直接将芯片放置入筛选内腔内,开启驱动电机,驱动电机带动中置轴转动,带动保护翻动组件转动,由于保护翻动组件的外部设置有保护外垫,在对于芯片进行翻动时,开启电磁铁片,对于有磁性的芯片吸附,保护外垫可有效对于芯片产生保护,避免芯片损坏,一些颗粒状的杂尘可通过料孔通道送出,具有良好的筛选功能。
搜索关键词: 一种 芯片 生产过程 破碎 筛选 装置 方法
【主权项】:
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