[发明专利]测试信号的时间补偿方法及装置在审
| 申请号： | 202110753138.9 | 申请日： | 2021-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN115561566A | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 陈亮;兰雪萌 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 张娜;刘芳 |
| 地址： | 230011 安徽省合肥*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供的测试信号的时间补偿方法及装置，在信号源向测试平台上的测试单元发送测试信号时，能够由补偿装置确定测试信号因阻抗匹配给每个测试位置上侧测试单元所带来的时延，并根据时延对信号源向不同测试单元发送的时钟信号进行时间补偿，使得测试单元能够更加准确地接收到测试信号，进而提高了使用测试平台对器件进行测试的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 信号 时间 补偿 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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