[发明专利]一种用于高精度电子经纬仪的纳米级干涉条纹测角系统在审
| 申请号： | 202110753787.9 | 申请日： | 2021-07-03 |
| 公开（公告）号： | CN113483728A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 王建强;朱前程;代阳;孙云龙 | 申请（专利权）人： | 东华理工大学 |
| 主分类号： | G01C1/02 | 分类号： | G01C1/02;G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人： | 汤牡丹 |
| 地址： | 330013 江西*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于高精度电子经纬仪的纳米级干涉条纹测角系统，包括纳米级光栅度盘、用于驱动纳米级光栅度盘旋转的驱动装置、纳米级光栅探测器，纳米级光栅探测器包括发光二极管、固定度盘、光敏二极管，发光二极管与光敏二极管相对应设置，固定度盘设置在发光二极管与光敏二极管之间，纳米级光栅度盘设置在固定度盘与光敏二极管之间；所述固定度盘、纳米级光栅度盘上均设置有密度相同的纳米条纹。本发明解决了电子经纬仪在复杂条件下架设、对中、整平和瞄准等过程中的精度误差源问题，提高了电子经纬仪的使用效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 高精度 电子 经纬仪 纳米 干涉 条纹 系统 | ||
【主权项】：
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