[发明专利]测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110760888.9 | 申请日： | 2021-07-06 |
| 公开（公告）号： | CN113671467A | 公开（公告）日： | 2021-11-19 |
| 发明（设计）人： | 吕朝晨;庞晓林;王青;江蔼庭;李文亮;金晶 | 申请（专利权）人： | 华芯半导体研究院（北京）有限公司;华芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01S7/497 | 分类号： | G01S7/497 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 黄玉霞 |
| 地址： | 100020 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试系统及方法，系统包括：发射装置，发射装置包括驱动组件和VCSEL芯片，驱动组件用于向VCSEL芯片输入驱动信号，以使VCSEL芯片输出纳秒级短脉冲光信号；接收装置，用于接收纳秒级短脉冲光信号，并对纳秒级短脉冲光信号进行光电转换，以输出与纳秒级短脉冲光信号对应的脉冲电信号；显示装置，用于接收来自接收装置的脉冲电信号，并对脉冲电信号进行显示，以便读取纳秒级短脉冲光信号的测试参数。该系统实现了对工作在短脉冲、大电流条件下的VCSEL芯片性能的评估。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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