[发明专利]一种在轨标校质谱仪基础参数的方法有效
| 申请号： | 202110766464.3 | 申请日： | 2021-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN113484401B | 公开（公告）日： | 2022-01-11 |
| 发明（设计）人： | 刘子恒;李健楠;苏菲;贺怀宇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地质与地球物理研究所 |
| 主分类号： | G01N27/62 | 分类号： | G01N27/62 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 李博 |
| 地址： | 100029 北京市朝阳区北土*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及质谱仪基础参数标校技术领域，提供了一种在轨标校质谱仪基础参数的方法，利用硅酸盐矿物在熔融态下可以吸附环境中气体的特点，在真空条件下，将硅酸盐矿物进行加热，得到熔融态硅酸盐矿物；将其置于标准气体的环境中进行吸附，然后迅速冷却得到标准样品，然后将标准样品预装于质谱仪的热控装置中。当质谱仪进入预定轨道后，需要利用质谱仪进行物质测试时，对标准样品进行在轨加热，使吸附的标准气体释放到质谱仪中，实现质谱仪基础参数的标校。由于硅酸盐矿物在加热之前不会释放气体，避免了使用标准气瓶导致的漏气的风险，且无需与气瓶配套的阀门，降低了质谱仪的重量，进而降低了火箭发射成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 轨标校 质谱仪 基础 参数 方法 | ||
【主权项】：
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