[发明专利]一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统在审
申请号: | 202110770207.7 | 申请日: | 2021-07-07 |
公开(公告)号: | CN113407219A | 公开(公告)日: | 2021-09-17 |
发明(设计)人: | 苏广峰;姜伟伟 | 申请(专利权)人: | 安测半导体技术(江苏)有限公司 |
主分类号: | G06F8/65 | 分类号: | G06F8/65;G01R31/28 |
代理公司: | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人: | 于利晓 |
地址: | 225000 江苏省扬州市高*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统,该方法包括:测试机对芯片进行测试,解析测试数据,将解析后的测试数据上传给服务器;服务器接收解析后的测试数据,将接收的测试数据保存到服务器的数据库中;根据取样参数从数据库中提取样本值,根据样本值得到第一动态阈值和第二动态阈值;获取第一动态阈值和第二动态阈值;将芯片测试的量测值与第一动态阈值和第二动态阈值进行比较,判断芯片为良品还是不良品。本申请为车规/军工等大量需求高可靠性芯片的测试提供解决方案,提高了测试效率以及测试的便利性,大大降低了不良品率。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 测试 程序 阈值 更新 方法 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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