[发明专利]一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统在审
| 申请号： | 202110770207.7 | 申请日： | 2021-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN113407219A | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 苏广峰;姜伟伟 | 申请（专利权）人： | 安测半导体技术（江苏）有限公司 |
| 主分类号： | G06F8/65 | 分类号： | G06F8/65;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京文苑专利代理有限公司 11516 | 代理人： | 于利晓 |
| 地址： | 225000 江苏省扬州市高*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统，该方法包括：测试机对芯片进行测试，解析测试数据，将解析后的测试数据上传给服务器；服务器接收解析后的测试数据，将接收的测试数据保存到服务器的数据库中；根据取样参数从数据库中提取样本值，根据样本值得到第一动态阈值和第二动态阈值；获取第一动态阈值和第二动态阈值；将芯片测试的量测值与第一动态阈值和第二动态阈值进行比较，判断芯片为良品还是不良品。本申请为车规/军工等大量需求高可靠性芯片的测试提供解决方案，提高了测试效率以及测试的便利性，大大降低了不良品率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 程序 阈值 更新 方法 系统 | ||
【主权项】：
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