[发明专利]校准微波辐射计的校准装置和方法在审
| 申请号： | 202110773673.0 | 申请日： | 2021-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN114112072A | 公开（公告）日： | 2022-03-01 |
| 发明（设计）人： | 哈拉尔德·切卡拉 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/80 | 分类号： | G01J5/80 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 谭营营;胡彬 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于精确校准微波辐射计(2)的校准装置(10)。校准装置(10)具有部分包围校准室(16)的壳体(14)。壳体(14)包括设置在壳体(14)的壁(22)处的微波可透过的部分(20)。微波可透过的部分(20)限定了微波进入校准室(16)的入口。微波可透过的部分(20)由绝热的微波可透过的材料制成。在校准室(16)内设置了处于限定的温度下的吸收器(18)。设置了在微波可透过的部分(20)和吸收器(18)之间的界面(24)，这确保微波基本上无反射地进入校准室(16)。微波基本上无反射地进入对应于捕获微波的至少3级反射。进一步，描述了一种校准微波辐射计(12)的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 校准 微波 辐射计 装置 方法 | ||
【主权项】：
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