[发明专利]用于探测器批量测试的测试治具、测试装置及测试方法在审
| 申请号： | 202110784959.9 | 申请日： | 2021-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN113576502A | 公开（公告）日： | 2021-11-02 |
| 发明（设计）人： | 袁钰函;唐望升;张楠 | 申请（专利权）人： | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 余明伟 |
| 地址： | 201201 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种用于探测器批量测试的测试治具、测试装置及测试方法，该测试治具的匣体包括从顶部至底部依次设置的钨片放置槽及探测器放置槽，探测器放置槽在竖直方向上可以同时套设多个，以兼容多种不同规格尺寸的探测器。探测器放置槽只需与探测器的四周边缘处接触并提供支撑力，避免了与探测器不规则的背部壳体接触造成的放置不平的问题。钨片放置槽便于测试人员规范地放置钨片，避免因偏移角不合适造成的反复调整和钨片调整后遗留伪影对测结果的干扰等问题。该测试装置可以同时对多个探测器进行批量测试，极大的提高了测试效率，此外，还能够将各个探测器的测试结果自动进行汇总，方便将测试结果导入到MES系统进行线上管理和产品追溯。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 探测器 批量 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海奕瑞光电子科技股份有限公司，未经上海奕瑞光电子科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110784959.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
