[发明专利]多核处理器调试方法、处理器、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110789521.X | 申请日： | 2021-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN113608788A | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | 梁智兵 | 申请（专利权）人： | 芯来智融半导体科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G06F9/38 | 分类号： | G06F9/38;G06F9/30 |
| 代理公司： | 北京新知远方知识产权代理事务所(普通合伙) 11397 | 代理人： | 马军芳;张艳 |
| 地址： | 201210 上海市浦东新区中国*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供了一种多核处理器调试方法、处理器、电子设备和存储介质，所述方法应用于处理器，所述处理器包括多个处理器内核，每个处理器内核中设置有状态寄存器，所述状态寄存器用于存储表征处理器内核是否需要退出调试模式的状态值，所述方法包括：各个所述处理器内核根据上位机发送的调试信息进行处理器调试；针对每个处理器内核，在完成处理器调试后，根据对应的状态值判断是否满足退出调试模式的条件；满足退出调试模式的条件的处理器内核执行退出调试模式对应的程序。多个处理器内核能够同时根据自身的状态值判定是否满足退出调试模式的条件，在满足条件时即可退出调试模式，从而可以实现多个处理器内核同时退出调试模式，便于软件人员调试，提高了调试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 多核 处理器 调试 方法 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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