[发明专利]一种单元测试方法及装置、存储介质在审
| 申请号： | 202110790597.4 | 申请日： | 2021-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN113342696A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 史金昊;周德辉 | 申请（专利权）人： | 北京沃东天骏信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 钟舒婷;张颖玲 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区经济技*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种单元测试方法及装置、存储介质，装置包括：单元测试加载模块，用于根据定义的Spark单元测试，注册计算环境构建模块的接口实现并加载到计算环境构建模块，以及注册单元测试模块的接口实现并加载到单元测试模块；计算环境构建模块，用于根据计算环境构建模块的接口实现，生成引擎构建任务和数据存储装置构建任务；利用引擎构建任务构建Spark计算引擎，并利用数据存储装置构建任务构建数据存储装置；单元测试模块，用于根据单元测试模块的接口实现，生成单元测试任务；并将单元测试任务加载到Spark计算引擎中执行，输出单元测试报告；数据存储装置，用于存储单元测试相关的测试数据。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 单元测试 方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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