[发明专利]基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备在审
| 申请号： | 202110792395.3 | 申请日： | 2021-07-13 |
| 公开（公告）号： | CN113566852A | 公开（公告）日： | 2021-10-29 |
| 发明（设计）人： | 王旭旭;刘业凡 | 申请（专利权）人： | 上海艾为电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/24 | 分类号： | G01D5/24;G01R27/26 |
| 代理公司： | 深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651 | 代理人： | 董琳 |
| 地址： | 201100 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请公开一种基线更新、相对状态检测方法和系统、电子设备，其中基线更新方法包括：获取电容传感器在各个采样时刻的电容变化量与对应的基线值之间的差值，得到第一检测差值；根据所述第一检测差值与检测阈值之间的关系识别所述电容传感器与参照物在所述各个采样时刻的参考相对状态；根据各个采样时刻的参考相对状态获取各个采样时刻的基线更新规则，以更新各个采样时刻的基线值。其使各个基线值与相应电容传感器所处状态和/或环境相匹配，可以提高依据相应基线进行电容传感器与参照物之间相对状态检测的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 基线 更新 相对 状态 检测 方法 系统 电子设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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