[发明专利]测试结构件和测试系统在审
| 申请号： | 202110793721.2 | 申请日： | 2021-07-14 |
| 公开（公告）号： | CN115616455A | 公开（公告）日： | 2023-01-17 |
| 发明（设计）人： | 刘诗涛;毕煜;易毕 | 申请（专利权）人： | 中兴智能科技南京有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/66 | 分类号： | G01R31/66;H01R4/60 |
| 代理公司： | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人： | 姜春咸;冯建基 |
| 地址： | 210000 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本公开提供一种测试结构件，包括通用匹配件、连接器匹配件、多条信号传输线和至少一个接地信号线；所述通用匹配件包括匹配平面和与所述匹配平面相对的参考面，所述接地信号线与所述参考面电连接；所述连接器匹配件包括参考壳体和阻抗调节部，所述阻抗调节部设置在所述阻抗调节部中，待测试的连接器的导电探针能够在所述参考壳体的底端面的任意位置插入所述参考壳体中；所述接地信号线设置在所述阻抗调节部中，所述信号传输线贯穿所述通用匹配件和所述阻抗调节部，且相邻两个信号传输线的第一端之间的间隔大于该相邻两个信号传输线的第二端之间的间隔。本公开还提供一种测试系统。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 结构件 系统 | ||
【主权项】：
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