[发明专利]用于芯片键合的基准标记在审

专利信息
申请号: 202110798175.1 申请日: 2016-08-30
公开(公告)号: CN113543462A 公开(公告)日: 2021-10-22
发明(设计)人: 符祥心;小杉浩充;艾利珍卓·艾尔德瑞二世·A·那瑞葛;拉维·帕拉尼斯瓦米 申请(专利权)人: 3M创新有限公司
主分类号: H05K1/02 分类号: H05K1/02;H05K1/11;H05K1/18;H05K3/32;H05K3/34;H01L33/62;H01L23/544;H01L23/498;H01L21/48;H01L23/488;H01L21/60
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周晨
地址: 美国明*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种用于安装发光半导体器件(200)(LESD)的柔性多层构造(100),该柔性多层构造包括具有LESD安装区域(120)的柔性介电基板(110),设置在LESD安装区域中用于电连接到在LESD安装区域中接收的LESD(200)的对应的第一导电端子和第二导电端子的第一导电垫(130)和第二导电垫(140),以及用于LESD在LESD安装区域中的精确放置的第一基准对准标记(150)。第一基准对准标记设置在LESD安装区域内。
搜索关键词: 用于 芯片 基准 标记
【主权项】:
暂无信息
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