[发明专利]一种半导体透视检测设备有效
| 申请号： | 202110812871.3 | 申请日： | 2021-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN113484713B | 公开（公告）日： | 2022-07-29 |
| 发明（设计）人： | 刘登攀 | 申请（专利权）人： | 深圳市艾兰特科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 成都佳划信知识产权代理有限公司 51266 | 代理人： | 史姣姣 |
| 地址： | 518100 广东省深圳市宝安区松岗街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种半导体透视检测设备，包括支撑地脚、下部内框架、封盖门、新滑台、X‑Y‑U载料平台、上部内框架、摇摆组合总装、控制面板、三色灯、透视门、显示器、操作控制台、连接铰链、X射线防护机壳、接近开关、感应器安装架、感应器支撑架、弧形导轨、第三感应器、第四传感器和安装卡架，所述下部内框架的外端面对称转动卡接有用于限位的封盖门，且位于所述的底端面四角均匀等距固定连有用于支撑的支撑地脚。本发明与以往的设备相比，主要在于平板探测器配备弧形导轨，可做单向倾斜至60度运动，采用X‑Y‑U载料平台，载料平台可做X,Y轴运动，也可做360度旋转运动，可以对产品进行不同角度，不同视角的全方位检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 透视 检测 设备 | ||
【主权项】：
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