[发明专利]分光测试装置及分光机在审
| 申请号： | 202110821300.6 | 申请日： | 2021-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN113465889A | 公开（公告）日： | 2021-10-01 |
| 发明（设计）人： | 段雄斌;张利利;曹亮;何选民 | 申请（专利权）人： | 深圳市标谱半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G01R31/26 |
| 代理公司： | 深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414 | 代理人： | 徐汉华 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安区航城街道三围社区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种分光测试装置及分光机。分光测试装置包括：多个探针组，各探针组包括两个探针组件；多个滑块组，各滑块组包括第一滑块和第二滑块；驱动机构，用于驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动；以及，支撑板。本申请的分光测试装置，设置驱动机构驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动，进而带动各探针组中两个探针组件相互靠近与远离；当各探针组的两个探针组件远离时，可以将LED芯片置于该探针组中，两个探针组件靠近时，以接触点亮LED芯片，以便对LED芯片进行测试；而通过设置多个探针组，从而可以实现同时对多个LED芯片进行测试，从而可以在无需增加分光机的前提下，提升测试效率，成本低。 | ||
| 搜索关键词： | 分光 测试 装置 | ||
【主权项】：
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