[发明专利]一种半导体集成电路检测仪器在审
| 申请号： | 202110829644.1 | 申请日： | 2021-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN113484729A | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 莫福好 | 申请（专利权）人： | 广州皓景数码科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 | 代理人： | 刘英 |
| 地址： | 510000 广东省广州市天河区中山大道中439*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种半导体集成电路检测仪器，包括底座,所述底座上设有一竖直的横栏块，将所述底座上方隔开成两部分，所述横栏块一侧滑动设有两个平行并列的活动块；本发明通过将集成电路板固定于托板机构上，将智能电表机构放置于底座上后自动的带动智能电表机构上的检测头在集成电路板上的各个针脚之间进行电路检测，代替了人工的检测工作，并且通过调节检测头的方位与集成电路板的位置以模拟人手的灵活性，使得能够像人工检测一样对集成电路板上各个位置进行检测，并且检测出异常后能够自动在异常位置做标记，使用者能够在检测后取下集成电路板以及智能电表机构以进行后续细化检查，使用方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 集成电路 检测 仪器 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州皓景数码科技有限公司，未经广州皓景数码科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110829644.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
