[发明专利]一种半导体晶面镀膜仪器在审
申请号: | 202110830236.8 | 申请日: | 2021-07-22 |
公开(公告)号: | CN113571451A | 公开(公告)日: | 2021-10-29 |
发明(设计)人: | 莫福好 | 申请(专利权)人: | 广州皓景数码科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/683 |
代理公司: | 深圳至诚化育知识产权代理事务所(普通合伙) 44728 | 代理人: | 刘英 |
地址: | 510000 广东省广州市天河区中山大道中439*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种半导体晶面镀膜仪器,包括底座,所述底座内设有向上开口的清洗框,所述清洗框内固定设有放置底座,本发明的一种半导体晶面镀膜仪器,本设备中设有运转装置,运转装置通过负压吸附的方式配合软塑胶吸附头,能够快速的进行晶圆的工序转进,且能够尽可能的减少运输途中对晶圆表面的磨损;同时装置设有清洗覆膜装置,当晶圆进入装置内部时,清洗装置能够快速的清洁晶圆上下表面同时,通过依次覆膜的方式,完整的清洗传统设备中难以清洁到的晶圆下表面,且清洗后将下表面一并覆膜,其在提升了清洁效率的同时,有效的解决了晶圆下表面难以清洁及覆膜困难的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 镀膜 仪器 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造